Merek: NANBEI
Model:AFM
Atomic Force Microscope (AFM), alat analisis yang dapat digunakan untuk mempelajari struktur permukaan bahan padat, termasuk isolator.Ini mempelajari struktur permukaan dan sifat suatu zat dengan mendeteksi interaksi interatomik yang sangat lemah antara permukaan sampel yang akan diuji dan elemen sensitif gaya mikro.